Semicera'nın Silisyum Karbür Sahte Gofreti günümüzün yüksek hassasiyetli yarı iletken endüstrisinin taleplerini karşılamak üzere tasarlandı. Olağanüstü dayanıklılığı, yüksek termal kararlılığı ve üstün saflığıyla bilinen bugofretyarı iletken üretiminde test, kalibrasyon ve kalite güvencesi için gereklidir. Semicera'nın Silisyum Karbür Sahte Gofreti, benzersiz aşınma direnci sunarak, bozulmadan zorlu kullanıma dayanabilmesini sağlar ve bu da onu hem Ar-Ge hem de üretim ortamları için ideal kılar.
Çeşitli uygulamaları desteklemek üzere tasarlanan Silisyum Karbür Sahte Gofret, aşağıdakileri içeren işlemlerde sıklıkla kullanılır:Si Gofret, SiC Substrat, SOI Gofret, SiN Substrat, VeEpi-Gofretteknolojiler. Olağanüstü termal iletkenliği ve yapısal bütünlüğü, onu gelişmiş elektronik bileşenlerin ve cihazların imalatında yaygın olan yüksek sıcaklıktaki işleme ve işleme için mükemmel bir seçim haline getirir. Ayrıca levhanın yüksek saflığı, hassas yarı iletken malzemelerin kalitesini koruyarak kirlenme risklerini en aza indirir.
Yarı iletken endüstrisinde Silisyum Karbür Sahte Gofret, Galyum Oksit Ga2O3 ve AlN Gofret dahil olmak üzere yeni malzeme testleri için güvenilir bir referans plaka görevi görür. Ortaya çıkan bu malzemeler, çeşitli koşullar altında stabilitelerini ve performanslarını sağlamak için dikkatli analiz ve testler gerektirir. Üreticiler, Semicera'nın yapay levhasını kullanarak performans tutarlılığını koruyan istikrarlı bir platform elde ederek yüksek güç, RF ve yüksek frekans uygulamaları için yeni nesil malzemelerin geliştirilmesine yardımcı oluyor.
Sektörlerdeki Uygulamalar
• Yarı İletken İmalatı
SiC Dummy Wafer'lar, özellikle üretimin ilk aşamalarında yarı iletken üretiminde çok önemlidir. Koruyucu bir bariyer görevi görerek silikon plakaları potansiyel hasarlardan korur ve proses doğruluğunu garanti ederler.
•Kalite Güvencesi ve Test
Kalite güvencesinde, SiC Dummy Wafer'lar teslimat kontrolleri ve süreç formlarının değerlendirilmesi için çok önemlidir. Film kalınlığı, basınç direnci ve yansıma indeksi gibi parametrelerin hassas ölçümüne olanak tanıyarak üretim süreçlerinin doğrulanmasına katkıda bulunurlar.
•Litografi ve Desen Doğrulaması
Litografide bu plakalar, desen boyutu ölçümü ve kusur kontrolü için bir referans noktası görevi görür. Hassasiyetleri ve güvenilirlikleri, yarı iletken cihaz işlevselliği için çok önemli olan istenen geometrik doğruluğun elde edilmesine yardımcı olur.
•Araştırma ve Geliştirme
Ar-Ge ortamlarında SiC Dummy Wafer'ların esnekliği ve dayanıklılığı kapsamlı deneyleri destekler. Zorlu test koşullarına dayanma kapasiteleri, onları yeni yarı iletken teknolojilerinin geliştirilmesinde paha biçilmez kılmaktadır.
